器件高低温试验的红外热象仪测温过程

器件的可靠性与器件的温度有密切关系。在器件的高低温试验、使用和失效分析过程中，人们十分关心器件的温度分布情况。

器件表面指定位置温度或温度分布一般用红外为象仪进行测量。红外热像仪测温时，要对测量温度和实际温度的关系进行标定，有时还要计算发射率。

我们在恒温温恒湿试验箱标定温度时，对如何测量真实温度的细节进行了深入探讨，特别是指数n的取法，感觉很复杂。

器件用红外热像仪由样品台、探测器固定及调焦支架、红外探测器、光学系统、信号处理系统和显示记录装置组成。

我们的红外探测器由薄膜淀积热敏电阻构成。红外线通过光学系统聚焦到探测器像元阵列上。当像元接收一定带宽的红外辐射时，其阻值会变化。阻值的变化通过惠斯通电桥而变换为电信号。后续电路对这些原始电信号进一步放大和处理后送至显示器上变成灰度值，形成该目标温度分布的二维可视图像。每种灰度又用伪彩色代替在显示器显示。从而得到图像灰度和物体温度之间的对应关系，实现了测温过程。