HALT试验技术简介
2011/8/2 8:19:24
HALT(highly Accelerated Life Test)即高加速寿命试验,是一种通过逐级增加环境应力,来加速暴露试验的缺陷和薄弱点,进而在产品研发的早期发现其设计缺陷,操作设计边际以及结构强度极限的试验方法。它将原需花费几个月甚至1年以上的新产品可靠性试验缩短至一周左右。HALT中找到的产品薄弱环节如果没有改善,会毫无例外地在产品使用环境下出现。在产品设计初期进行HALT试验可大大减少产品的设计成本,缩短产品的设计周期,提高企业的生产、设计效率。HALT试验尤其适用于那些在内部使用PCB板控制的设备的设计研发。
HALT试验的目的——HALT试验通过系统地施加工作应力和逐步增大的环境应力来激发故障,可以达到:
1、迅速找出产品的设计及制造缺陷、改善设计缺陷,为开发人员改进产品设计方案提供依据;
2、对产品设计缺陷进行及时的修正,提高产品在使用过程中的可靠性;
3、估计产品的操作极限和破坏极限,为HASS的应力类型和应力量及的选择提供依据。
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