可靠性加速退化试验

　　对长寿命、高可靠产品，按照传统的寿命试验技术进行产品寿命评估，往往难以在可行的时间内完成。为了解决这个问题，回还试验被 广泛用来激发产品潜在缺陷，缩短试验时间，以期得到更多的可靠性信息。将在高应力水平试验下获得的寿命、性能信息通过合理的统计方法外推，就可以得到常规应力条件下可靠性或寿命的估计，这些加速试验技术都昌建立在所施加的应力不改变计算器失效机理的基础上，分为加速寿命试验(ALT)与加速退化试验(ADT)两类。

　　加速退化试验(ALT)是使用与寿命(或者可靠性)有关的模型，通过比正常使用时所预期的更高的应力条件下的试验来度量寿命，以确定寿命多长。

　　按照应力施加方式，加速寿命试验分为：恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿命试验和序进应力加速寿命试验。

　　加速寿命试验方法主要利用截尾法来结束试验，如果试验中没有出现失效，那么利用获得截尾数据对产品的可靠性或寿命进行估计时，就会与产品实际的可靠性或寿命有较大的差距，一般情况下偏于保守。而对长寿命高可靠产品进行加速寿命试验时可能只有少量失效出现或者根本没有失效出现，因此ALT方法的使用受到了一定的限制。

　　加速退化试验找出生能退化如何发生、何时发生，在保持失效机理不变的条件下，把样品性能的退化，以确定系统、子系统、元器件、材料的退化轨迹，从而通过外推的方法得到产品在设计或使用条件下的失效时间或可靠性。

　　ADT克服了ALT只记录产品失效时间，不管产品如何失效及失效的具体过程，更没有考虑产品的性能变化情况不足，通过对加速退化数据的处理可以对长寿命高可靠的寿命及可靠性进行较好的估计，给出满意的评估结果，弥补了ALT对无失效试验数据处理的缺陷。

　　众志仪器载自互联网